Zeiss GeminISEM 300 voi suorittaa INLENS -sekundaarisen elektronien kuvantamisen ja takaisinsuojatun elektronikuvauksen samanaikaisesti enintään 0,7 nm: n resoluutiolla. Se voi toteuttaa nopean, korkealaatuisen, vääristymättömän suuren mittakaavan ja sub-nano-resoluution kuvantamisen. EDS-ilmaisin, jolla on 100 mm2-ikkuna, voi suorittaa piste-, linja- ja alueelementtien reaaliaikaisen kvantitatiivisen määrityksen. EBSD-ilmaisin voi kerätä vääristymättömän ja megapikselin resoluution EBSP: n yksityiskohtaista kanta- ja vaiheanalyysiä varten.

Spektriarcos ICP-OES: llä on pystysuora kaksoishavaintirakenne (DSOI), joka lisää herkkyyttä ja eliminoi saastumisen/matriisin yhteensopivuusongelmat. Sen ORCA-optinen järjestelmä voi kaapata spektrit 130-770 nm: n alueella. Verrattuna echelle-pohjaisiin järjestelmiin, joissa on ristikkäin dispersio, käyttämällä keskivaihetta ritilää ja prismaa, se tarjoaa suorituskyvyn UV/VUV-alueella fotoakustisen signaalin voimakkuuden ollessa jopa 5x enemmän.

Spectrolab S sisältää maailman CMOS-pohjaisen ilmaisimen tallennusjärjestelmän, mikä tekee siitä ihanteellisen huippuluokan metallianalyysiin. Se tarjoaa erittäin nopeat, erittäin tarkan ja poikkeuksellisen joustavan analyysin sovelluksille, jotka vaihtelevat hivenaineista monimatrixiin.

Jena NOVAA 800F: ssä on integroitu karuselli, jossa on RFID-lukija 8 koodattuun onttoihin katodilamppuihin, deuterium-taustakorjaukseen, todistettu optinen penkki yhden ja kaksinkertaisen säteen tilassa sekä päästötilassa ja uusimmassa Siosens-kiinteän tilan ilmaisimessa. Sen useita älykkäitä lisävarusteita maksimoivat tuottavuuden, turvallisuuden ja helppokäyttöisyyden analyyttisiin rutiineihin.

68TM-30 Universal Material -testausjärjestelmässä on 30kN- ja 1kN-kuormitusantureita, joiden tarkkuus on 0,5 astetta, välillä 0,1 ~ 100%. Testijärjestelmä voi suorittaa integroidun datan suljetun silmukan ohjauksen ja hankinta, samoin kuin anturien automaattisen tunnistamisen ja kalibroinnin. Sen tarkkaan koskettamattoman videon extensometrin AVE2: n resoluutio on 0,5 μm, ja se käyttää patentoitua polarisoitua valaistusjärjestelmää ja CDAT-tuulettimia henkilöstön, valaistuksen ja ilmavirran poistamiseksi testituloksiin erittäin toistettavan ja tarkan rasituksen mittauksen.

VR-5200-projekti käyttää raidallista jäsenneltyä valoa ja tarkkaan CMOS-anturia kuvien sieppaamiseen ja kunkin pisteen korkeuden ja sijainnin mittaamiseen. Vähävirran linssillä varustettu, se voi mitata 200 × 100 × 50 mm: n välillä. Korkean suurennuslinssi vähentää näytön resoluution arvoon 0,1 μm, mikä mahdollistaa muodon, vaihtelun ja karheuden mittauksen. $

IM-8020 käyttää kaksinkertaista telefektorista linssiä, jolla on poikkeukselliset reunan havaitsemisominaisuudet mitatakseen vaihtelevien korkeuksien näytteitä vain yhdellä napsautuksella. Sen havaitseminen on 3 kertaa tavanomaisten mallejen suorituskyky 20 megapikselin CMOS: n ja uuden reunan havaitsemisalgoritmin ansiosta. Mittauspinta -ala on 300 mm × 200 mm ja kaksinkertainen perinteisten mallien nopeus, se voi mitata jopa 300 osaa vain muutamassa sekunnissa. Tämä mahdollistaa nopean, tarkan ja helpon mittauksen, parantavan tarkkuutta huomattavasti samalla vähentäen mittausaikaa ja ihmisen virheitä.

Helos/BR -laserpartikkelianalysaattori on varustettu tehokkaalla ja vankalla RODOS -kuiva -dispersioyksiköllä kuivana ja toistettavissa olevaan hiukkaskokoanalyysiin kuivien näytteiden kanssa. Sen mittausalue on 0,3 - 175 μm ja tarkkuus on alle 0,3%.

STA 449F3 Jupiter on vankka, joustava ja helppokäyttöinen instrumentti, joka määrittelee samanaikaisesti kalorien vaikutukset ja massan vaihtelun. Siinä yhdistyvät korkean suorituskyvyn Heat-Flux DSC, jossa on lämpöbalaisuus, jolla on mikrogrammi-resoluutio, joka tarjoaa vertaansa vailla olevan näytteen kuormituksen ja mittausalueen.